화학뉴스

미래창조과학부는 글로벌 프론티어사업 나노기반 소프트일렉트로닉스 연구단의 안종현 연세대 전기전자공학부 교수와 진왕철 포스텍 신소재공학과 교수, 손정호 삼성디스플레이 책임연구원, 백승재 연세대 전기전자공학부 연구원이 복잡한 공정 없이 그래핀의 결정면과 내부 결함분포를 관찰하는 기술을 개발했다고 3월31일 발표했다.
미래부는 “그래핀 결함 분석 기술은 대면적 그래핀의 특성을 분석하는 데 투입되는 시간과 비용을 획기적으로 줄일 수 있다”며 “유연한 그래핀 기반 투명전극을 상용화에 기여할 것”이라고 말했다.
그래핀은 1나노미터 미만으로 박막의 두께가 얇고 박막 형성 과정이 복잡해 그 구조를 분석하고 제어하기가 어려운 것으로 알려지고 있다.
그러나 연구팀은 액정 소재를 이용해 그래핀 박막의 결정 구조와 내부결함 분포를 광학적으로 분석하는 기술을 개발하고, 외부의 기계적응력 변화에 따른 그래핀 내부의 결함 발생과정을 파악하는 데에도 성공한 것으로 알려졌다.
연구팀은 액정 소재를 그래핀 박막 위에 코팅하면 액정이 그래핀의 결정면을 따라 배향되는 것을 발견했으며, 이에 따라 별도의 복잡한 공정 없이 그래핀의 결정면을 손쉽게 관찰하고 변화한 액정의 이미지만 봐도 결함 유무를 확인할 수 있게 됐다.
연구팀 안종현 교수는 “그래핀의 결정면, 결함분포 및 결함발생을 과정을 확인함으로써 그래핀의 전기적 특성 변화의 원인을 규명할 수 있게 됐다”며 “앞으로 그래핀의 결함을 제어할 수 있는 방법을 개발 해 착용형 전자소자 등에 그래핀 소재를 상업화하는데 기여할 것”이라고 말했다.